HORIZON 全反射X熒光光譜儀配備了12位樣品臺自動測量，創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī)，角度測量，采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應(yīng)用在環(huán)境分析、制藥分析、法醫(yī)學(xué)、化學(xué)純度分析、油品分析、染料分析、半導(dǎo)體材料及核材料工業(yè)分析領(lǐng)域。

HORIZON 全反射X熒光光譜儀主要特點(diǎn)
■ 單內(nèi)標(biāo)校正，有效簡化了定量分析，無基體影響；
■ 對于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析；
■ 多元素實(shí)時分析，可進(jìn)行痕量和超痕量分析；
■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響；
■ *的液體或固體樣品的微量分析，分析所需樣品量小；
■ 優(yōu)良的檢出限水平，元素分析范圍從鈉覆蓋到钚；
■ 動態(tài)線性范圍；
■ 無需任何化學(xué)前處理，無記憶效應(yīng)；
■ 非破壞性分析，運(yùn)行成本低廉。