X射線衍射儀用Schulz反射法進(jìn)行殘余奧氏體含量測量，在測量過程中，試樣表面與X射線的聚焦平面重合，而且試樣在測量的過程中固定不動，通過θ和2θ 軸的轉(zhuǎn)動(滿足Bragg方程)來完成測量，這時所測量的只是平行于試樣表面的那些晶面的衍射信息。

因此，影響XRD殘余奧氏體定量的重要因素是晶粒的擇優(yōu)取向。以馬氏體的(200)晶面的衍射為例，如果晶粒雜亂無章分布，那么從統(tǒng)計學(xué)上不同位置處(200)晶面所占比例是一樣的；然而一旦存在擇優(yōu)取向，則不同位置處(200)所占的比例將不同，這樣在X射線衍射儀測量時，有的位置參與衍射的(200)晶面增多，導(dǎo)致測量的(200)衍射峰的強度增加；而有的位置參與衍射的(200)晶面減少，導(dǎo)致測得的(200)衍射峰的強強度減弱。

而殘余奧氏體含量測量的標(biāo)準(zhǔn)《YB/T 5338—2006鋼中殘余奧氏體定量測定 X射線衍射儀法》是根據(jù)所測得的馬氏體、奧氏體衍射峰的強度比值進(jìn)行計算的，這樣在殘余奧氏體含量的真實值不變的前提下，由于擇優(yōu)取向引起衍射峰強度改變，導(dǎo)致殘余奧氏體的測量值(計算值)會與實際值差別很大，或者說存在較大的誤差。

通常，由于受樣品表面狀況、晶粒取向、儀器參數(shù)等因素的影響，實際測量的衍射峰強度與理論值會存在一定的偏差?？紤]到這個因素，YB/T5338-2006標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：在利用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量計算時，馬氏體或奧氏體衍射峰的實測強度比與理論強度比允許波動的相對范圍為±30%，即實測值和理論值偏差小于30%時可以采用該標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行殘余奧氏體含量的測量。

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實現(xiàn)殘余奧氏體測試，具有操作簡便、檢測速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點，對操作人員要求不高，做到輕松上手。