激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通，消除了光路損耗，提高檢出限，測(cè)定結(jié)果，重現(xiàn)性及穩(wěn)定性，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線(xiàn)掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。直讀光譜儀自動(dòng)識(shí)別特定譜線(xiàn)，與原存儲(chǔ)線(xiàn)進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置，找出分析線(xiàn)當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定；這些元素的特征光譜線(xiàn)通過(guò)出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量。 

 

    電極間距較小，固然激發(fā)容易，可是隨著放電次數(shù)的增加，輔助電極凝聚物質(zhì)增加，容易造成長(zhǎng)尖使得間距變小，這樣也會(huì)影響分析精度，特別是向距變化敏感的分析元素分析精度更差。所以直讀光譜儀的電極間距不能過(guò)大也不能過(guò)小，一般分析間隙采用4-5毫米。一般組織結(jié)構(gòu)的不同不會(huì)使工作曲線(xiàn)斜率改變，大體上只有平行移動(dòng)?？刂圃嚇觼?lái)校正曲線(xiàn)的上下平移，能減少系統(tǒng)誤差。分析試樣經(jīng)切割以后、要磨去表面氧化層，用研磨機(jī)磨樣時(shí)，試樣和標(biāo)鋼要同時(shí)操作，要力求操作一致，用力過(guò)大則易使表面氧化。磨紋要求一致，不應(yīng)有交叉紋。試樣磨后不宜放置過(guò)長(zhǎng)，否則造成試料表面氧化，影響分析結(jié)果。一般可采用中軟，粒度為360的砂輪片磨樣，此外也可用砂紙或砂輪磨樣。